无线通讯和半导体测试的理想选择

40-878 (PXI)和42-878 (PXIe)是无线通讯和半导体测试的理想选择。这些基于MEMS的射频多路复用开关与传统的电磁继电器（EMR）相比，提供显著提高的操作寿命（高达300倍）、更高的切换速度（高达60倍）、更高的带宽和更高的射频承载功率。另外，插入损耗和EMR不相上下，且比固态继电器低得多。 

这些模块是50Ω4:1的射频多路复用开关。为配合测试应用不同的尺寸，40/42-878系列提供单组、双组，或四组4通道的多路复用开关，全部占用一个 PXI或PXIe机箱 槽位，使得用户可以灵活地选择机箱，最大程度地减少对插槽数量的需要。40-878还可以安装在我们的 LXI/USB模块化开关机箱 中，使得 PXI、LAN 或 USB 控制的开关解决方案具有相同的高水平射频性能。这些模块提供SMB或MCX两种连接器，使用户可以选择最适合他们应用的接口。 

40/42-878系列提供大于30亿次的操作寿命，远超基于EMR的解决方案（通常为1千万次操作），最大程度地减少由于继电器损坏或需要维护造成的系统停机的发生。仅50us的切换速度使得这些开关可以在EMR的一次切换时间内进行多次切换，因此最大程度地减短了测试周期时间，以及提高了系统吞吐量。快速切换的优点使得这款产品适用于类型广泛的各类应用。