用工业数字I/O解决方案开启自动化测试的未来
在自动化测试快速发展的背景下，对可靠性强且高性能的数字输入/输出（DIO）解决方案的需求愈发迫切。本白皮书深入探讨了工业 DIO 技术的最新进展，同时强调了这些创新如何显著提高测试流程的效率、准确性以及保证系统的长期稳定性。
具体内容包括：
- 扩展电压范围：介绍当下的 DIO 模块如何支持更高的电平，从而实现与更多种类的传感器和执行器兼容。
- 强大的保护机制：阐述过压、过流及热过载保护措施对于确保测试系统可靠性方面的重要性。
- 可自定义阈值设置：解释可调节输入电压阈值的功能，及其在复杂电磁环境中提高信号准确性的优势。
- 无缝集成：探讨 DIO 模块与现有 PXI 平台的集成方式，以构建一个协调统一且高效的测试环境。
- 高密度配置：分析在大规模测试场景中如何通过优化空间利用和系统可扩展性来提升整体性能。
- 诊断能力：说明 DIO 模块作为先进诊断工具的应用，展示其相较于传统方法的优势，简化并优化测试流程。
提交表格可免费获得白皮书《当5V TTL方案不可行时：探讨工业数字输入输出（DIO）在自动化测试中的关键作用》
