반도체 어플리케이션 가이드, ‘웨이퍼 억셉턴스 테스트 (WAT): 스위치 가드 기술을 통한 낮은 누설 스위칭’을 통하여 WAT 성공 비결을 알아보십시오. 테스트 정밀도와 효율성을 높이도록 설계된 스위치 가드 기술을 사용하여 낮은 누설 스위칭으로 최대 수율과 공정 제어를 달성하는 방법을 알아보십시오. 기본적인 이해부터 심화된 전략 구현까지, 이 가이드북은 고속 파라미터 테스트에서 탁월한 역량을 발휘할 수 있는 지식과 수단을 제공합니다.
어플리케이션 가이드 내용:
- 스위치 가드 설계가 초저레벨 전류 측정의 정밀도를 향상시키는 방법.
- 1 테라오옴을 초과하는 절연 저항과 펨토암페어 영역에서의 누설 전류의 중요성.
- 반도체 제조에서 웨이퍼 억셉턴스 테스트의 중요한 역할.
- 고속 파라미터 테스트에서 낮은 누설 스위칭 및 스위치 가드 기술의 실제 적용 사례.
- 향상된 스위칭 솔루션을 반도체 테스트 시스템에 통합하여 성능을 향상시키는 방법.
오른쪽 양식을 작성하여 “웨이퍼 억셉턴스 테스트 (WAT): 스위치 가드 기술을 통한 낮은 누설 스위칭 활용” 어플리케이션 가이드를 무료로 내려 받으십시오.
