白皮书:
FADEC系统的硬件在环(HIL)测试
精通FADEC系统测试
测试关键任务型FADEC系统充满挑战,需要精密可控的环境和可靠工具。我们与OPAL-RT深度合作编写的白皮书,《FADEC系统的硬件在环(HIL)测试》,将为您提供经过验证的技术方案,帮助降低风险、提升精度并优化航空航天领域FADEC系统的验证流程。
核心价值:
- 掌握在真实工况下获得一致性HIL测试结果的方法
- 发掘可扩展的测试方案,验证复杂FADEC功能
- 构建可追溯的工作流,轻松符合航空标准要求
- 获取安全高效的故障工况测试方法
- 了解如何在研发早期识别并解决系统问题