Utilisation de l'insertion de défauts et de la simulation de capteurs à base PXI dans le test électronique
Consultez notre livre blanc:
Les calculateurs électroniques (ECU) sont présents aujourd’hui dans de nombreuses applications et le bon fonctionnement de ces ECU est généralement vérifié par l’utilisation du Hardware in the Loop Simulation (HILS). Cela remplace les capteurs qui surveillent l’environnement réel de l’ECU par des simulateurs électroniques.
L’insertion de défauts est également couramment utilisée dans les systèmes HILS pour garantir que le calculateur fonctionne de manière sûre et fiable sous toutes les conditions de fonctionnement possibles. Il est essentiel d’automatiser ce test de panne pour que le processus de validation reste rapide et reproductible.
Ce livre blanc traite des avantages de l’utilisation de la plate-forme PXI, standard de l’industrie, pour l’insertion automatisée de défauts et la simulation de capteurs (HILS).
Les détails comprennent:
- Introduction au HILS et insertion de défauts
- Solutions d’insertion de défauts PXI pour votre système de test
- Solutions de simulation PXI pour votre système de test
Soumettez le formulaire pour obtenir votre copie gratuite de "Using PXI-based Fault Insertion & Sensor Simulation in Electronic Test. "
